文献

J-GLOBAL ID：201102291843397543   整理番号：11A0396762

リートフェルト分析の能力の向こう側:適合するMEMベースのパターン

Beyond the ability of Rietveld analysis: MEM-based pattern fitting

著者 (1件)： IZUMI F
資料名： SOLID STATE IONICS
巻： 172  号： 1-4  ページ： 1-6  発行年： 2004年 
JST資料番号： O6149A  ISSN： 0167-2738  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： その他 (ZZZ)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (4件)： リート ,  フェルト ,  分析 ,  能力