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J-GLOBAL ID：201102293654587075   整理番号：11A0122822

高速波長掃引レーザの瞬間線幅の直接測定

Direct measurement of the instantaneous linewidth of rapidly wavelength-swept lasers

著者 (5件)： BIEDERMANN Benjamin R. ,  WIESER Wolfgang ,  EIGENWILLIG Christoph M. ,  KLEIN Thomas ,  HUBER Robert
資料名： Optics Letters  (Optics Letters)
巻： 35  号： 22  ページ： 3733  発行年： 2010年11月15日 
JST資料番号： H0690A  ISSN： 0146-9592  CODEN： OPLEDP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 光コヒーレンストモグラフィー(OCT)に用いられる高速波長掃引レーザ光源の瞬間線幅は,それらの動作に関与する物理的効果をより深く理解するために極めて興味深い。OCTの掃引レーザ(典型的に約15THz/約10μsで掃引)の線幅は数GHzである。高速の光周波数掃引では標準の方法による瞬間スペクトルの測定は不可能である。従って,これ迄は,瞬間線幅への実験手法はコヒーレンス減衰の逆Fourier変換による間接的なものであった。本論文では,光スペクトル分析器で引続き測定できる,電子光学変調器による瞬間スペクトルの「スナップショット」の抽出と高速同期時間ゲーティングによる方法を示した。この新しい方法を詳細に解析し,変調に起因する側波帯発生や掃引動作に起因する残留波長不確実性なdの系統的アーチファクトを定量した。コヒーレンス性による一般的な,より間接的測定の結果との一貫性を調べた。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *トモグラフィー ,  光走査 ,  *パルス幅 ,  パルスレーザ ,  *レーザパルス ,  スペクトル
準シソーラス用語： *光コヒーレンストモグラフィー ,  レーザ走査 ,  瞬間スペクトル

分類 (1件)： 光学情報処理  (BD03060T)

タイトルに関連する用語 (6件)： 波長 ,  掃引 ,  レーザ ,  瞬間 ,  線幅 ,  直接測定