文献

J-GLOBAL ID：201102298905136118   整理番号：11A0886368

等価の加速寿命試験計画及び信頼性推定への利用

Equivalent Accelerated Life Testing Plans and Application to Reliability Prediction

著者 (2件)： LIAO Haitao (Univ. Tennessee) ,  ELSAYED E. A. (Rutgers Univ.)
資料名： SAE International Journal of Materials and Manufacturing  (SAE International Journal of Materials and Manufacturing)
巻： 3  号： 1  ページ： 71-77  発行年： 2010年 
JST資料番号： W2275A  ISSN： 1946-3979  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 加速寿命試験(ALT)は試験時に通常の運転状態より厳しい運転条件を負荷し,短時間に製品の信頼性を推定するのに広く用いられている。推定される信頼性の精度はALTモデル及びALT計画に依存する。ALTを実施する際の応力負荷としては,一定応力,ステップ応力,及び繰返し応力の様な多種の応力がある。しかし異なる応力負荷でのALT実験での等価性に関しては研究されていない。本文では,ALT計画での等価性の概念が研究され,複数の等価計画が論議された。小形電球に対するALT実験に対して本方法は実証された。本実験では,3段階の一定応力試験計画が基準計画として用いられ,短時間の等価のランプ応力試験も検討された。等価試験計画の概念は,保証できる信頼性を保持し,製品のリリース時間を大幅に減少できた。本文に示した例は,変数として1応力しか含んでいないが,等価ALT設計手法は複数の応力のALT計画問題にも拡張できる。さらに異なる応力荷重に起因する損傷等価性も提案された計画プロセスに含めることができる。

シソーラス用語： *寿命試験 ,  信頼性 ,  *電球 ,  *負荷 ,  工程 ,  縮小 ,  等価性 ,  傾斜 ,  応力 ,  対数正規分布 ,  試験 ,  パラメータ

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 等価 ,  加速寿命試験 ,  計画 ,  推定