特許

J-GLOBAL ID：201103000075782504

半導体集積回路装置及びその位相テスト方法

発明者： 杉本 勝
出願人/特許権者： 株式会社ルネサステクノロジ
代理人 (1件)： 酒井 宏明
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-202532
公開番号（公開出願番号）：特開2001-033521
特許番号：特許第3934283号
出願日： 1999年07月16日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 複数のクロックを必要とする半導体集積回路装置の入力クロック間の位相テスト方法であって、 複数のクロックから任意のクロックを選択し、その選択されたクロックにより転送されるデータを時系列データとして保持し、この時系列データをチェックすることにより、選択クロックに対する位相チェックを行なうことを特徴とする半導体集積回路装置の位相テスト方法。

IPC (4件)：

G01R 31/28 ( 200 6.01) ,  G06F 11/30 ( 200 6.01) ,  H01L 21/822 ( 200 6.01) ,  H01L 27/04 ( 200 6.01)

FI (3件)：

G01R 31/28 V ,  G06F 11/30 320 D ,  H01L 27/04 T

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 集積回路およびテスト方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平11-170592   出願人：ルーセントテクノロジーズインコーポレーテッド