特許
J-GLOBAL ID：201103000178441870

分析装置制御システム及び該システム用プログラム

発明者：
塩浜 徹

塩浜 徹 について


出願人/特許権者：
株式会社島津製作所

株式会社島津製作所 について


代理人 (1件)： 特許業務法人京都国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-209835
公開番号（公開出願番号）：特開2011-058982
出願日： 2009年09月10日
公開日（公表日）： 2011年03月24日
要約：
【課題】参照用クロマトグラムを基準として一又は複数の測定を実行するような、クロマトグラフと接続された分析装置において、分かりやすく且つ簡潔に測定条件を設定することができる分析装置制御システムを提供する。【解決手段】予め用意されている参照用クロマトグラムを表示部14に表示するクロマトグラム表示部31と、表示されている参照用クロマトグラムに対し、測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして視覚的に重畳して表示する時間範囲表示部32と、ユーザによる指示に基づき、範囲バーの時間的位置や長さを変更する範囲変更部33と、範囲変更部33による範囲バーの時間的位置や長さの変更に基づき、範囲バーに対応する測定の時間範囲を再設定する測定時間再設定部34と、を備えたシステムとする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
測定対象試料をクロマトグラフによって時間的に分離しつつ、全測定時間内の一又は複数の部分時間範囲のそれぞれにおいて所定の測定を実行するように分析装置を制御するためのシステムであって、 a)予め用意されている、前記測定対象試料に対応する参照用クロマトグラムを表示部に表示するクロマトグラム表示部と、 b)表示されている参照用クロマトグラムに対し、測定を実行する一又は複数の時間範囲をそれぞれ範囲バーとして時間的に重畳して表示する時間範囲表示部と、 c)ユーザによる指示に基づき、前記時間範囲表示部によって表示されている範囲バーの時間的位置及び/又は長さを変更する範囲変更部と、 d)前記範囲変更部によって範囲バーの時間的位置及び/又は長さが変更されたことに基づき、該範囲バーに対応する測定の時間範囲を再設定する測定時間再設定部と、 を備えることを特徴とする分析装置制御システム。
IPC (3件)：
G01N 30/72 ,  G01N 30/86 ,  G01N 27/62
FI (5件)：
G01N30/72 C ,  G01N30/86 D ,  G01N30/86 G ,  G01N27/62 D ,  G01N27/62 X
Fターム (5件)：
2G041CA01 ,  2G041EA04 ,  2G041HA01 ,  2G041MA03 ,  2G041MA04
引用特許：
審査官引用 (4件)
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