特許

J-GLOBAL ID：201103000304866482

性能分析装置及び性能分析方法及び性能分析プログラム

発明者： 魚住 光成
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 溝井 章司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-050312
公開番号（公開出願番号）：特開2011-186712
出願日： 2010年03月08日
公開日（公表日）： 2011年09月22日
要約：

【課題】利用者の体感するシステムの時間性能であるターンアラウンド時間に関し、多重度やシステムの実装方法等によって変動する特性を、統計的に把握する。【解決手段】性能分析装置110の計測データ処理部111は、サーバ101が要求を受信してから応答を返信するまでの応答時間(ターンアラウンド時間)を計測した計測値(ターンアラウンドリスト208)と、サーバ101の負荷を段階評価した負荷レベル(時間別負荷レベル207)とを時系列で格納する。性能分析装置110のデータ分析部112は、計測データ処理部111から負荷レベルごとに複数の計測値を抽出し、負荷レベルごとにサーバ101の応答時間がガウス分布をなすと仮定して、抽出した複数の計測値から負荷レベルごとにサーバ101の応答時間の確率密度関数(統計量データ214)を算出する。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

要求を受信すると当該要求に応じた処理を実行して応答を返信するサーバ装置の性能を分析する性能分析装置において、 前記サーバ装置が要求を受信してから応答を返信するまでの応答時間を計測した計測値と、前記サーバ装置の負荷を段階評価した負荷レベルとを時系列で記憶装置に格納する計測データ処理部と、 前記計測データ処理部から負荷レベルごとに複数の計測値を処理装置により抽出し、負荷レベルごとに前記サーバ装置の応答時間がガウス分布をなすと仮定して、抽出した複数の計測値から負荷レベルごとに前記サーバ装置の応答時間の確率密度関数を処理装置により算出するデータ分析部とを備えることを特徴とする性能分析装置。

IPC (1件)：

G06F 11/34

FI (1件)：

G06F11/34 S

Fターム (5件)：

5B042GA12 ,  5B042HH20 ,  5B042MA14 ,  5B042MC29 ,  5B042MC33