特許
J-GLOBAL ID：201103000332979438
疲労試験装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
永井 冬紀
公報種別：特許公告
出願番号（国際出願番号）：特願平1-138285
公開番号（公開出願番号）：特開平3-002643
出願日： 1989年05月31日
公開日（公表日）： 1991年01月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】設定された最大変位と最小変位との間を振動する変位パターンで供試体に対し繰返し圧縮荷重を加える負荷機構と、前記供試体に働く荷重を検出する荷重検出手段と、前記供試体の変位を検出する変位検出手段と、前記検出された変位をフィードバックしながら前記変位パターンで供試体が負荷されるように前記負荷機構を駆動する駆動制御手段と、前記両検出手段からの検出結果に従い試験開始時における最小荷重時の初期最小変位と初期最大荷重とをそれぞれ記憶する記憶手段と、各繰返しサイクルにおいて前記変位検出手段から検出される変位の最小値と前記記憶された初期最小変位とを用いこれら両変位値の差を減ずるように前記設定された最小変位を補正するとともに、各繰返しサイクルにおいて前記荷重検出手段から検出される荷重の最大値と前記記憶された初期最大荷重とを用いこれら両荷重値の差を減ずるように前記設定された最大変位を補正する補正手段とを具備することを特徴とする疲労試験装置。
IPC (2件)：
G01N 3/00 B 9116-2J
, G01N 3/34 A 9116-2J
