特許

J-GLOBAL ID：201103000390110956

光学式位置検出装置

発明者： 清瀬 摂内
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  須澤 修 ,  宮坂 一彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-128611
公開番号（公開出願番号）：特開2011-252882
出願日： 2010年06月04日
公開日（公表日）： 2011年12月15日
要約：

【課題】対象物体で反射した光を光検出器で検出する方式を採用した場合において、検出空間の全体にわたって対象物体の位置を高い精度で検出することのできる光学式位置検出装置を提供すること。【解決手段】光学式位置検出装置10では、複数の検出用光源12を順次点灯させて検出光L2を出射させ、検出空間10Rに位置する対象物体Obにより反射した光L3の一部を光検出器30により受光した結果に基づいて対象物体Obの位置を検出する。Z軸方向からみたとき、光検出器30に近い位置にある検出用光源12B、12Dから出射された検出光L2b、L2dは、検出光L2a、L2cに比して導光板13から検出空間10Rに到達するまでの減衰度合いが大である。従って、対象物体Obと光検出器30との距離に起因する減衰度合いの差は、検出空間10RにおけるY軸方向の一方側Y1と他方側Y2とにおける強度差によって相殺される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

対象物体の位置を光学的に検出する光学式位置検出装置であって、 検出光を出射する複数の検出用光源を備えた光源装置と、 該光源装置からの前記検出光の出射方向に交差する方向から当該検出光の出射空間に受光部を向け、当該出射空間と重なる検出空間内に位置する前記対象物体により反射した前記検出光を検出する光検出器と、 前記複数の検出用光源を順次点灯させた際の前記光検出器での前記検出光の検出強度に基づいて前記検出空間における前記対象物体の位置を検出する位置検出部と、 を有し、 前記複数の検出用光源のうち、前記出射方向からみたときに前記光検出器との距離が近い第1検出用光源については、該第1検出用光源に比して前記光検出器との距離が遠い第2検出用光源より前記検出空間までの前記検出光の減衰度合いが大であることを特徴とする光学式位置検出装置。

IPC (2件)：

G01B 11/00 ,  G06F 3/041

FI (2件)：

G01B11/00 Z ,  G06F3/041 330E

Fターム (22件)：

2F065AA04 ,  2F065BB15 ,  2F065FF41 ,  2F065GG07 ,  2F065GG13 ,  2F065JJ01 ,  2F065JJ18 ,  2F065LL01 ,  2F065LL47 ,  2F065LL49 ,  2F065NN02 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ25 ,  2F065UU07 ,  5B087AA02 ,  5B087BC03 ,  5B087CC02 ,  5B087CC26 ,  5B087CC33 ,  5B087CC34 ,  5B087DD03 ,  5B087DJ03