特許

J-GLOBAL ID：201103001562775013

触媒中の陰イオン分析方法

発明者： 佐渡 直彦
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-291537
公開番号（公開出願番号）：特開平3-152456
特許番号：特許第2570871号
出願日： 1989年11月09日
公開日（公表日）： 1991年06月28日
請求項（抜粋）：

【請求項1】第1工程と第2工程を有し、第1工程は貴金属を担持したカーボン担体を炭酸塩水溶液で処理するものであり、第2工程は前記工程で得られた試料液中の陰イオンをイオンクロマトグラフィにより分離定量するものである、ことを特徴とする触媒中の陰イオン分析方法。

IPC (3件)：

G01N 30/88 ,  B01D 15/08 ,  G01N 30/06

FI (3件)：

G01N 30/88 H ,  B01D 15/08 ,  G01N 30/06 Z