特許
J-GLOBAL ID:201103001880627821
テストリーク装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (5件):
矢野 敏雄
, 山崎 利臣
, 久野 琢也
, アインゼル・フェリックス=ラインハルト
, ラインハルト・アインゼル
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-600072
特許番号:特許第4383677号
出願日: 1999年11月18日
請求項(抜粋):
【請求項1】 ヘリウム-供給テストガスと、漏れ率規定部材(14)とを備えたテストリーク装置(1)において、
供給テストガスが、実質的に大気圧下で、閉鎖部材(3)を備えた再閉鎖可能な貯蔵容器(2)内に配置されており、該貯蔵容器(2)が閉じられた状態で閉鎖部材(3)と貯蔵容器(2)との間にテストガスが漏れないようにシールするシール部材(11)が設けられており、漏れ率規定部材(14)が前記閉鎖部材(3)の構成部であって、閉鎖部材(3)が、新鮮なテストガスを後から充てんするための流入及び流出通路(24,25)を備えており、該流入及び流出通路(24,25)の外側の開口(27,28)が、貯蔵容器(2)が閉じられた状態で同様に閉鎖されるように、閉鎖部材(3)の側方に配置されている、ことを特徴とする、テストリーク装置。
IPC (1件):
FI (2件):
G01M 3/20 W
, G01M 3/20 B
引用特許:
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