特許
J-GLOBAL ID:201103002113397930

欠点検出装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 岡田 英彦 (外3名)
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-201353
公開番号(公開出願番号):特開2002-022669
特許番号:特許第3452871号
出願日: 2000年07月03日
公開日(公表日): 2002年01月23日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光透過性を有する検出対象を挟んで、検出対象の厚み方向で対向する一方の側に設けられた第1の投光器及び複数の第2の受光器と、他方の側に設けられた第2の投光器及び複数の第1の受光器と、検出手段とを備え、検出対象の検出方向及び幅方向に対してほぼ同じ位置にある第1の受光器と第2の受光器を検出対とし、検出手段は、各検出対を構成する第1の受光器の出力信号と第2の受光器の出力信号を加算した結果を用いて検出対象の欠点を検出する欠点検出装置。
IPC (2件):
G01N 21/896 ,  G06T 1/00 420
FI (3件):
G01N 21/896 ,  G06T 1/00 420 F ,  G06T 1/00 420 G
引用特許:
審査官引用 (4件)
  • 特開平4-340427
  • 被覆欠陥検出装置および方法
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平5-046026   出願人:アメリカンテレフォンアンドテレグラフカムパニー
  • 特開平4-340427
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