特許
J-GLOBAL ID：201103002680222696
トンネル変状計測装置及びトンネル変状計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
田澤 英昭
, 濱田 初音
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-070194
公開番号（公開出願番号）：特開2011-203090
出願日： 2010年03月25日
公開日（公表日）： 2011年10月13日
要約：
【課題】変形前の断面形状を示すデータがなくとも、断面の形状にかかわらず変状を計測することのできるトンネル変状計測装置を得る。【解決手段】軸設定部3は、記憶装置1に格納されている点群データ6からトンネルの軸10を抽出する。断面設定部4は、軸10に直交する面に対して軸10に平行に射影した点群の射影パターンによりトンネルの断面を求める。基準面設定装置2は、断面を軸10の方向に掃引した面を基準面14として設定する。変状算出装置5は、点群データ6における任意の点と基準面14との差をその点の変状として算出する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
トンネルを計測した3次元の座標値をもつ点群データからトンネルの軸を抽出する軸設定部と、前記トンネルの断面を設定する断面設定部とを有し、前記軸と前記断面とに基づいて構成される面を基準面として設定する基準面設定手段と、
前記点群データにおける任意の点と前記基準面との差をその点の変状として算出する変状算出手段とを備えたトンネル変状計測装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01C7/06
, G01C15/00 104A
