特許
J-GLOBAL ID：201103003384641795
位置測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
藤谷 修
公報種別：特許公告
出願番号（国際出願番号）：特願平1-130672
公開番号（公開出願番号）：特開平2-309202
出願日： 1989年05月23日
公開日（公表日）： 1990年12月25日
請求項（抜粋）：
【請求項1】実空間に置かれた線状の認識物体とカメラとの相対的位置関係が異なる2つの位置において、前記認識物体をそれぞれ撮像して2つの画像を作成する画像作成手段と、その画像作成手段により作成された2つの画像の対応関係を決定し、2つの画像において相対応する所定の注目点の座標から、その注目点の実空間での位置を演算する演算手段とを備えた位置測定装置において、前記演算手段は、前記2つの画像のそれぞれにおいて、前記注目点に対して所定の位置関係にあり、y軸方向にとられた微小長さの短辺と、前記y軸に垂直なx軸方向にとられた長辺とから成るウインドウ領域を設定するウインドウ設定部と、前記2つの画像のそれぞれにおいて設定されたそれぞれの前記ウインドウ領域において、前記輝線を近似する直線を求めその各直線の傾きと各直線の同一y座標をとる各x座標から直線間の距離を演算する特徴抽出部と、前記2つのウインドウ領域における2つの直線群における各対応関係において、前記直線の傾きと前記直線の距離とを照合させて、それらの偏差に基づいて照合の程度を表す値を求め、その値から最も照合する対応関係を決定し、前記注目点の前記2つの画像における座標を決定する対応点決定部と、前記注目点の前記2つの画像における座標から前記注目点の空間座標を決定する3次元位置計算部とを有することを特徴とする位置測定装置。
IPC (1件)：
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