応力分布計測方法

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：杉村暁秀 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-204573
公開番号（公開出願番号）：特開2002-022559
特許番号：特許第3362182号
出願日： 2000年07月06日
公開日（公表日）： 2002年01月23日
請求項（抜粋）：

【請求項1】所定の光源と、1/4波長板と、検光子とを具える光学系を用いて試料に対する光弾性縞を得、この光弾性縞の光強度分布から前記試料の応力分布を計測する方法であって、前記検光子を一定方向に角度α毎に連続的に回転させるとともに、前記1/4波長板を前記検光子の回転方向と同一方向に、前記角度αの整数倍の角度βで前記検光子の回転と同期するようにして連続的に回転させ、前記試料における応力分布を実時間で解析するようにしたことを特徴とする、応力分布計測方法。

IPC (1件)：