特許

J-GLOBAL ID：201103005733045740

光学的三次元形状計測システム

発明者： 北澤 智文 ,  鈴木 明 ,  北口 貴史 ,  青木 伸 ,  佐藤 康弘
出願人/特許権者： 株式会社リコー
代理人 (1件)： 根本 恵司
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-051467
公開番号（公開出願番号）：特開2002-250613
特許番号：特許第4001318号
出願日： 2001年02月27日
公開日（公表日）： 2002年09月06日
請求項（抜粋）：

【請求項1】撮像装置のストロボの発光を光源とし、パターンマスクを透過させて、三次元位置検出用パターンを被写体に投影するパターン投影装置であって、該パターン投影装置は撮像装置に対して着脱可能である三次元形状計測システム。

IPC (2件)：

G01B 11/25 ( 200 6.01) ,  G01B 11/24 ( 200 6.01)

FI (2件)：

G01B 11/25 H ,  G01B 11/24 K