特許

J-GLOBAL ID：201103005822272644

試料横置式ゴニオフォトメータ装置

発明者： 坂 本 篤 志
出願人/特許権者： 朝日分光株式会社
代理人 (1件)： 瀬谷 徹 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-068138
公開番号（公開出願番号）：特開2001-255270
特許番号：特許第3446120号
出願日： 2000年03月13日
公開日（公表日）： 2001年09月21日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 分光器及びその光源ランプと、その分光器で狭波長帯に分光され、その光が通過する光路を中心軸とした第1及び第2の中空状回転機構部と、それぞれの回転機構部に取付けられ、それぞれ独立して回転自在に回転する第1及び第2の回転部材と、それら回転機構部の中心軸を通過する光路の進行方向延長線上にあって、試料を載せる水平面を設け、前記延長線がその水平面に接するように配設され、中心部に光路穴を設けた試料台とを具備し、前記第1の回転部材は、前記分光光路を前記光路穴を通過して試料台の試料の一方の面側に導くため、その回転部材の中に中空の光路トンネルを設け、分光光路をその光路トンネルを通過させるための反射鏡を配設し、一方、前記第2の回転部材は、前記第1の回転部材からの入射光が前記試料を通過して反対側に透過する透過光、又は前記試料から反射する反射光の強度を計測するため、前記第2の回転機構部を回転させ、それらの光路の入射に合せられる位置に積分球及びその受光器を配設し、試料を水平面を設けた試料台に載せ、透過率測定時は、第1の回転機構を回転させ、第1の回転部材の光路トンネルからの光を前記試料の一方の側に入射し、その透過光を第2の回転機構を回転させて、試料の反対側で第2の回転部材の積分球に入射させて測定し、一方、反射率測定時は、第2の回転機構を回転させて、前記試料の同一の側で第2の回転部材の積分球に入射させて測定することを特徴とする試料横置式ゴニオフォトメータ装置。

IPC (7件)：

G01N 21/47 ,  G01B 9/10 ,  G01J 3/18 ,  G01M 11/04 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/55 ,  G01N 21/59

FI (7件)：

G01N 21/47 Z ,  G01B 9/10 ,  G01J 3/18 ,  G01M 11/04 ,  G01N 21/01 B ,  G01N 21/55 ,  G01N 21/59 Z