特許

J-GLOBAL ID：201103006757267332

比較的薄い壁を有する試験体で積分法によるリークテストを実施する方法

発明者： マルクス ノートヘルファー ,  ルーディ ヴィット
出願人/特許権者： インフィコン ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング
代理人 (5件)： 矢野 敏雄 ,  山崎 利臣 ,  久野 琢也 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  ラインハルト・アインゼル
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-576253
特許番号：特許第4288006号
出願日： 1999年07月02日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 比較的薄い壁を有する試験体で積分法によるリークテストを実施する方法であって、サーチガスを含んだ試験体(1)をテスト室内でリークテストする形式の方法において、試験体(1)中のサーチガス濃度を検査するために、複数の試験体のうちの少なくとも1つの試験体(1)中のサーチガス濃度を測定し、この場合、該試験体(1)の壁(2)にリーク部(4)を施与し、該試験体(1)を用いてリークテスト過程を実施することを特徴とする、比較的薄い壁を有する試験体で積分法によるリークテストを実施する方法。

IPC (1件)：

G01M 3/20 ( 200 6.01)

FI (1件)：

G01M 3/20 B