特許
J-GLOBAL ID:201103007097261022

材料特性評価方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 佐藤 正年 ,  佐藤 年哉 ,  花村 太 ,  佐藤 正年 ,  佐藤 年哉
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-088342
公開番号(公開出願番号):特開2001-281186
特許番号:特許第4159013号
出願日: 2000年03月28日
公開日(公表日): 2001年10月10日
請求項(抜粋):
【請求項1】 被検材に磁界を生じさせずに、被検材の電気抵抗値を測定する第1測定工程と、 被検材に異なる強さの磁界を生じさせて、被検材の電気抵抗値を測定する第2測定工程と、 前記第1測定工程で測定された電気抵抗値と前記第2測定工程で測定された電気抵抗値とから前記被検材に磁界を加えることにより変化する電気抵抗値の変化分を算出する算出工程と、 前記算出された電気抵抗値の変化分と磁界の強さとの関係及び前記電気抵抗値の変化分と予め磁界による電気抵抗値の変化分と材料特性との相関関係を求めた特性データとに基づいて、前記被検材の材料特性を評価する評価工程と、 を含むことを特徴とする材料特性評価方法。
IPC (2件):
G01N 27/04 ( 200 6.01) ,  G01N 27/72 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01N 27/04 Z ,  G01N 27/72
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特公昭56-011902
  • 特開昭49-014193
引用文献:
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