特許
J-GLOBAL ID:201103007610957690

磁界解析装置および磁界解析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 酒井 宏明
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2009-148993
公開番号(公開出願番号):特開2011-008347
出願日: 2009年06月23日
公開日(公表日): 2011年01月13日
要約:
【課題】磁化ベクトルの影響を正確に考慮すること。【解決手段】利用者によって指定された解析対象物の各種情報に基づいて、解析対象物から発生する電流ベクトルによる磁界である第一の磁界を算出するための第一の方程式を有限要素法および境界積分法により解析可能な形式で作成する。また、利用者によって指定された解析対象物の各種情報に基づいて、解析対象物から発生する磁化ベクトルによる磁界である第二の磁界を算出するための第二の方程式を有限要素法および境界積分法により解析可能な形式で作成する。そして、第一の方程式と第二の方程式とを用いて、第一の磁界および第二の磁界それぞれを算出し、第一と第二の磁界を合算した合算磁界を解析対象物における磁界の解析結果とする。【選択図】図1
請求項(抜粋):
解析対象物の物性情報を受け付ける入力部と、 前記入力部から受け付けた前記解析対象物の物性情報に基づいて、当該解析対象物から発生する電流ベクトルによる第一の磁界を算出するための第一の方程式と、当該解析対象物から発生する磁化ベクトルによる第二の磁界を算出するための第二の方程式とを、有限要素法および境界積分法により解析可能な形式で作成する方程式作成部と、 前記方程式作成部によって作成された方程式を用いて、前記第一の磁界および前記第二の磁界それぞれを算出する磁界計算部と、 を有したことを特徴とする磁界解析装置。
IPC (1件):
G06F 17/50
FI (1件):
G06F17/50 612H
Fターム (2件):
5B046AA07 ,  5B046JA10
引用特許:
審査官引用 (5件)
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