特許

J-GLOBAL ID：201103008931138973

カードテスト装置

発明者： 逢坂 宏 ,  針間 博嗣 ,  城 輝明
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 志村 浩
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-155030
公開番号（公開出願番号）：特開平3-020885
特許番号：特許第2701071号
出願日： 1989年06月17日
公開日（公表日）： 1991年01月29日
請求項（抜粋）：

【請求項1】テスト対象となるカードを搬入する搬入手段と、搬入されたカードを収容する温度制御室と、前記温度制御室の室内温度を所定温度に制御する温度制御手段と、前記温度制御室内に前記搬入方向に対して垂直な方向に伸びるように設けられ、所定速度で回転運動をする回転軸と、この回転軸に、その軸方向に対して垂直になるように、かつ、両者の間隔が搬入されるカードの幅とほぼ等しくなるように、固定された2枚の支持板と、前記温度制御室内のカードを所定の搬送路に沿って搬送する搬送手段と、前記搬送路上のカードに対してテストを行うテスト手段と、前記テストが終了したカードを、前記搬送路から搬出する搬出手段と、を備え、前記2枚の支持板の間に複数のカードを放射状に支持することができるように、前記2枚の支持板の内側面にカードの側辺を保持する手段を形成し、搬入されたカードが前記温度制御室内に、前記支持板に保持されながら所定時間滞在しうるように構成したことを特徴とするカードテスト装置。

IPC (3件)：

G06K 17/00 ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28

FI (4件)：

G06K 17/00 B ,  G01R 31/00 ,  G01R 31/28 B ,  G01R 31/28 H