特許
J-GLOBAL ID：201103009547782543
積層セラミックコンデンサおよびその製造方法と検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
石井 陽一
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-060731
公開番号（公開出願番号）：特開2000-260653
特許番号：特許第3411848号
出願日： 1999年03月08日
公開日（公表日）： 2000年09月22日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 誘電体層と内部電極層とが交互に積層されており、前記誘電体層が、主成分として式 [(Ba1-xCax)O]m(Ti1-yZry)O2[上記式においてx、y、mはモル比を表し、0≦x≦0.05、0≦y≦0.20、1.000≦m≦1.010である]で表される化合物を含有し、副成分としてR酸化物(ただし、RはY、Eu、Tb、Gd、Dy、Ho、Er、TmまたはYb)の少なくとも1種およびMnOを含有し、主成分に対するRの比率が0.05〜1.0モル%であり、主成分に対するMnOの比率が0.05〜1.0モル%であり、前記誘電体層のキュリー温度以上かつ130°C以上の温度でインピーダンスの位相角を測定し、周波数と位相角との関係を示すグラフを作成したとき、このグラフにおいて周波数1mHz〜100Hzの範囲内に位相角のピークが2つ観測され、これらのピークのうち高周波側のものをP1、その位相角をθP1とし、低周波側のものをP2、その位相角をθP2としたとき、θP1≧θP2である積層セラミックコンデンサ。
IPC (3件)：
H01G 4/12 358
, H01G 4/12 364
, H01G 13/00 361
H01G 4/12 358
, H01G 4/12 364
, H01G 13/00 361 Z
