特許
J-GLOBAL ID：201103009849481470
イオントラップ形質量分析装置及びその制御方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
作田 康夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-207232
公開番号（公開出願番号）：特開2001-035436
特許番号：特許第3551091号
出願日： 1999年07月22日
公開日（公表日）： 2001年02月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】試料をイオン化するイオン源と、当該イオン源で生成されたイオンを一時的に保持するイオントラップと、前記イオン源と前記イオントラップの間に配置され、イオントラップへのイオンの導入を電気的に制御するゲート電極と、前記イオントラップから放出されたイオンを検出する検出器とを有するイオントラップ形質量分析装置において、前記ゲート電極に正電圧及び負電圧を印加する電圧印加手段と、測定で得られたマススペクトルより、任意の目的成分の信号強度と任意のノイズ成分の信号強度との比を算出し、当該比が大きくなるように、前記電圧印加手段で印加する電圧の大きさを制御する印加電圧制御手段とを有することを特徴とするイオントラップ形質量分析装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H01J 49/42
, G01N 27/62 E
