特許

J-GLOBAL ID：201103010036179510

ゴム材料の非破壊検査方法

発明者： 西北 直子 ,  真下 成彦 ,  齊藤 崇浩 ,  永田 武志 ,  西北 行伸 ,  中飯 浩二 ,  杉 信一郎
出願人/特許権者： 株式会社ブリヂストン
代理人 (4件)： 小島 隆司 ,  重松 沙織 ,  小林 克成 ,  石川 武史
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-187921
公開番号（公開出願番号）：特開2011-038945
出願日： 2009年08月14日
公開日（公表日）： 2011年02月24日
要約：

【課題】ゴム製品の使用現場においても、簡便かつ精度良く架橋状態(劣化の状態)を評価することのできるゴム材料の非破壊検査方法を提供する。【解決手段】パルス法核磁気共鳴(P-NMR)装置を用いるゴム材料の非破壊検査方法であって、CPMG法によりゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、得られたT2緩和曲線(自由誘導減衰曲線)を、下記式(1)により緩和時間の短いT2M成分と、緩和時間の長いT2L成分とに分割し、上記T2M成分とT2L成分それぞれの緩和時間及び成分量比率を解析してゴム材料の状態を評価することを特徴とするゴム材料の非破壊検査方法。(式中、T2Mは緩和時間の短い成分の緩和時間、T2Lは緩和時間の長い成分の緩和時間、A2Mは緩和時間の短い成分のt=0時の強度、A2Lは緩和時間の長い成分のt=0時の強度、tは観測時間である。)【選択図】図4

請求項（抜粋）：

パルス法核磁気共鳴(P-NMR)装置を用いるゴム材料の非破壊検査方法であって、 Carr-Purcell-Meiboom-Gill(CPMG)法によりゴムのスピン-スピン緩和時間T2を測定し、 得られたT2緩和曲線(自由誘導減衰曲線)を、下記式(1)により緩和時間の短いT2M成分と、緩和時間の長いT2L成分とに分割し、 上記T2M成分とT2L成分それぞれの緩和時間及び成分量比率を解析してゴム材料の状態を評価することを特徴とするゴム材料の非破壊検査方法。

IPC (1件)：

G01N 24/08

FI (2件)：

G01N24/08 510N ,  G01N24/08 510L