特許
J-GLOBAL ID：201103010417524354
溶融金属等の表面レベル計測装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
早川 政名 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-031559
特許番号：特許第3001200号
出願日： 1999年02月09日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 照射光源から発せられる光を薄厚平面状の可視光線として照射する可視光ラインマーカーと、該可視光ラインマーカーにより照射される可視光線が結像することにより現れる可視像を撮像する撮像カメラとを具備し、溶融金属等の測定表面の変位を計測する際において、上記可視光ラインマーカーから照射される可視光線を、鉛直軸に対して0 ゚若しくは90 ゚以外の傾斜角度を介して、同溶融金属の測定表面と、該測定表面と垂直に交わる壁面とに亘って照射し、上記溶融金属等の測定表面の反射率が比較的低い状態にあって、同測定表面上から上記壁面に亘って略L字型に屈折した線として可視像が結像する場合、上記可視像の屈折点部位を上記撮像カメラにて撮像し、その屈折点の座標を任意の画像処理により求め、且つ、上記溶融金属等の測定表面の反射率が比較的高い状態であって、該測定表面にて可視光線が反射されて、上記壁面に直接結像する可視光線とその反射像とが同壁面上にてV字型に屈折した線として結像する場合、この可視像の屈折点部位を上記撮像カメラにて撮像し、その可視像の屈折点の座標を任意の画像処理により求め、上記それぞれの測定表面の変位計測結果として演算して出力するように構成した溶融金属等の表面レベル計測装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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