特許
J-GLOBAL ID：201103010444966709

二次電池検査方法

発明者：
下澤 博信

下澤 博信 について

, 
丹上 雄児

丹上 雄児 について


出願人/特許権者：
日産自動車株式会社

日産自動車株式会社 について


代理人 (1件)： とこしえ特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-222659
公開番号（公開出願番号）：特開2011-069775
出願日： 2009年09月28日
公開日（公表日）： 2011年04月07日
要約：
【課題】微小短絡の検知精度を向上させることができる二次電池検査方法を提供する。【解決手段】第1のSOCまで二次電池1を充電する充電工程と、充電工程の後に、前記二次電池を所定時間放置する放置工程と、放置工程の後に、第1のSOCより低い第2のSOCまで放電する放電工程と、放電工程の後に、二次電池1を所定の温度より低い電池温度にして、二次電池1の微小短絡を検出する検出工程とを含む。【選択図】 図5
請求項（抜粋）：
第1のSOCまで二次電池を充電する充電工程と、 前記充電工程の後に、前記二次電池を所定時間放置する放置工程と、 前記放置工程の後に、前記第1のSOCより低い第2のSOCまで放電する放電工程と、 前記放電工程の後に、前記二次電池を所定の温度より低い電池温度にして、前記二次電池の微小短絡を検出する検出工程とを含むことを特徴とする 二次電池検査方法。
IPC (4件)：
G01R 31/36 ,  H01M 10/48 ,  H01M 10/42 ,  H02J 7/00
FI (5件)：
G01R31/36 A ,  H01M10/48 P ,  H01M10/48 301 ,  H01M10/42 P ,  H02J7/00 Q
Fターム (16件)：
2G016CB02 ,  2G016CB03 ,  2G016CB05 ,  2G016CC07 ,  2G016CC13 ,  5G503BB01 ,  5G503EA09 ,  5H030AA06 ,  5H030AS20 ,  5H030BB01 ,  5H030BB21 ,  5H030FF22 ,  5H030FF41 ,  5H030FF42 ,  5H030FF44 ,  5H030FF52
引用特許：
審査官引用 (4件)
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