特許
J-GLOBAL ID：201103010740052623
質量分析
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
廣田 浩一
, 流 良広
, 松田 奈緒子
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-509946
公開番号（公開出願番号）：特表2011-521244
出願日： 2009年05月18日
公開日（公表日）： 2011年07月21日
要約：
標的アナライトをアッセイする方法であって、(a)各サンプルが他のサンプルとは異なる1つの質量標識又は質量標識の組み合わせで標識されており、前記質量標識が質量標識のセットに含まれている標識であり、各質量標識が質量スペクトルの異なる質量マーカー基を含む同重質量標識であり、その結果質量分析により前記サンプルを識別可能である、前記標的アナライトを含んでいてもよい複数のサンプルを提供する工程と、(b)前記複数の標識サンプルを混合して分析混合物を作製し、前記分析混合物を質量分析計に導入する工程と、(c)特定の数の前記質量標識で標識されている前記標的アナライトのイオンと等しい第1の質量電荷比を有するイオンを選択する工程と、(d)前記第1の質量電荷比を有するイオンを複数のフラグメントイオンにフラグメント化する工程であって、前記複数のフラグメントイオンの一部が少なくとも1つのインタクトな質量標識を含む工程と、(e)少なくとも1つのインタクトな質量標識を含む前記標的アナライトのフラグメントイオンと等しい第2の質量電荷比を有するイオンを選択する工程と、(f)前記第2の質量電荷比を有するイオンを複数の更なるフラグメントイオンにフラグメント化する工程であって、前記更なるフラグメントイオンの一部が質量マーカー基のイオンである工程と、(g)工程(f)で生成される前記更なるフラグメントイオンの質量スペクトルを作成する工程と、(h)前記質量スペクトルから各サンプル中の前記標的アナライトの量を特定する工程と、を含む方法。【選択図】図34
請求項（抜粋）：
標的アナライトをアッセイする方法であって、
(a)各サンプルが他のサンプルとは異なる1つの質量標識又は質量標識の組み合わせで標識されており、前記質量標識が質量標識のセットに含まれている標識であり、各質量標識が質量スペクトルの異なる質量マーカー基を含む同重質量標識であり、その結果質量分析により前記サンプルを識別可能である、前記標的アナライトを含んでいてもよい複数のサンプルを提供する工程と、
(b)前記複数の標識サンプルを混合して分析混合物を作製し、前記分析混合物を質量分析計に導入する工程と、
(c)特定の数の前記質量標識で標識されている前記標的アナライトのイオンと等しい第1の質量電荷比を有するイオンを選択する工程と、
(d)前記第1の質量電荷比を有するイオンを複数のフラグメントイオンにフラグメント化する工程であって、前記複数のフラグメントイオンの一部が少なくとも1つのインタクトな質量標識を含む工程と、
(e)少なくとも1つのインタクトな質量標識を含む前記標的アナライトのフラグメントイオンと等しい第2の質量電荷比を有するイオンを選択する工程と、
(f)前記第2の質量電荷比を有するイオンを複数の更なるフラグメントイオンにフラグメント化する工程であって、前記更なるフラグメントイオンの一部が質量マーカー基のイオンである工程と、
(g)工程(f)で生成される前記更なるフラグメントイオンの質量スペクトルを作成する工程と、
(h)前記質量スペクトルから各サンプル中の前記標的アナライトの量を特定する工程と、
を含むことを特徴とする方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (20件)：
2G041CA01
, 2G041DA04
, 2G041EA04
, 2G041EA12
, 2G041FA07
, 2G041FA11
, 2G041FA12
, 2G041FA21
, 2G041FA22
, 2G041FA23
, 2G041FA24
, 2G041FA25
, 2G041GA03
, 2G041GA07
, 2G041GA08
, 2G041GA09
, 2G041GA10
, 2G041JA04
, 2G041KA01
, 2G041LA08
