検査用パルス発生回路を備えた半導体集積回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：渡辺喜平
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-312486
公開番号（公開出願番号）：特開2001-133521
特許番号：特許第3555073号
出願日： 1999年11月02日
公開日（公表日）： 2001年05月18日
請求項（抜粋）：

【請求項1】バーインテストにおけるテスト信号を入力して発振信号を出力する検査用パルス発生回路と、前記テスト信号と前記発振信号を入力して、前記テスト信号がHレベルのときは、データ入力信号,スキャンモードコントロール信号,スキャン入力信号及びスキャンクロック信号として、前記発振信号を出力し、前記テスト信号がLレベルのときは、前記データ入力信号,スキャンモードコントロール信号,スキャン入力信号及びスキャンクロック信号として、外部入力信号を出力するデータセレクタ回路と、このデータセレクタ回路から出力される前記発振信号または前記外部入力信号を入力して動作する、順序回路と組み合わせ回路とからなっているスキャンパス回路とを具備したことを特徴とする検査用パルス発生回路を備えた半導体集積回路。

IPC (3件)：

G01R 31/30 , G01R 31/28 , G06F 11/22

FI (4件)：

G01R 31/30 , G06F 11/22 360 P , G01R 31/28 G , G01R 31/28 V

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