特許
J-GLOBAL ID：201103011925532806
不良要因の分析表示方法および不良要因の分析表示装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
山崎 宏
, 田中 光雄
, 仲倉 幸典
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-267607
公開番号（公開出願番号）：特開2011-113195
出願日： 2009年11月25日
公開日（公表日）： 2011年06月09日
要約：
【課題】生産プロセスと検査プロセスから取得されるデータを用いた不良要因分析において、分析により不良要因として抽出されたデータ項目について、分析結果の妥当性の判断と、生産プロセスの改善策の立案に必要な、適切な詳細データを選択する不良要因の分析表示装置を提供する。【解決手段】演算装置16は、製品の生産データと検査データを製品毎に集計した代表値を元に不良発生の不良要因の分析を行う。表示装置17は、分析結果から抽出されたデータ項目について、代表値のもとになった生産データおよび検査データを、分析対象となった複数の代表値の中から、統計手法による演算を用いて選択し、表示する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
生産プロセスで製造された製品における複数のデータ項目を有する生産データを、この生産プロセスから取得すると共に、上記生産プロセスで製造された製品における複数のデータ項目を有する検査データを、検査プロセスから取得する工程と、
上記生産データおよび上記検査データに基づいて、上記製品毎に、上記生産データおよび上記検査データのうちの少なくとも一方のデータの代表値を演算する工程と、
上記演算された代表値に基づいて、上記製品の不良発生の不良要因を分析する工程と、
上記不良要因の分析によって不良要因として抽出された上記データ項目に関して、このデータ項目に関する代表値が演算されるもとになった上記少なくとも一方のデータを表示する工程と
を備え、
上記表示する工程では、表示される上記少なくとも一方のデータを、上記不良要因の分析の対象となった複数の代表値の中から、統計手法による演算を用いて選択することを特徴とする不良要因の分析表示方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G05B19/418 Z
, G06F17/60 108
3C100AA58
, 3C100BB15
, 3C100BB27
