特許
J-GLOBAL ID：201103012227863724
テストモード設定方法とテスト回路およびマイクロコントローラ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岩橋 文雄 (外2名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-141876
公開番号（公開出願番号）：特開2000-329832
特許番号：特許第3506047号
出願日： 1999年05月21日
公開日（公表日）： 2000年11月30日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 発振安定待ち回路を内蔵した半導体集積回路のテストモードを設定するための方法であって、第4の端子から発振クロックを入力し、第3の端子からリセット信号を入力し、前記リセット信号によりリセット状態を解除された後に数クロック分のゲートパルスを発生させる期間に第2の端子から前記テストモードを設定するためのデータを入力し、前記データの遷移をエッジとして検出することによりパルスデータを発生し、前記テストモードを判別するためのキーデータと前記パルスデータとを比較して一致した時にテストモード設定データラッチ許可信号を生成し、第1の端子から入力される前記テストモードを設定するためのデータをデコードしてテストモード信号を発生し、前記テストモード設定データラッチ許可信号により前記テストモード信号をラッチして保持することを特徴とするテストモード設定方法。
IPC (2件)：
G01R 31/28
, G01R 31/3185
