特許

J-GLOBAL ID：201103012495211411

組み込み自己試験回路装置

発明者： アルフレッド ヤング ,  ズー ワン パン
出願人/特許権者： NECエレクトロニクス株式会社
代理人 (1件)： 後藤 洋介 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-369011
公開番号（公開出願番号）：特開2002-216301
特許番号：特許第3510613号
出願日： 1999年09月30日
公開日（公表日）： 2002年08月02日
請求項（抜粋）：

【請求項1】 記憶媒体に対して信号の書き込み及び読み出しを行なうためのシステムに用いられる組み込み自己試験回路装置において、読み出し信号を受け取るように構成された読み出し入力と、書き込み信号を前記読み出し入力に入力するアナログ試験パスと、前記読み出し入力に入力された前記書き込み信号を増幅するように構成された可変利得増幅器と、前記可変利得増幅器から出力された前記書き込み信号を微分して前記記憶媒体への信号の書き込み及び前記記憶媒体からの信号の読み出しの作用をモデル化するように構成された微分器と、前記微分器により処理された後の前記書き込み信号から得られるデータを出力するデータ出力とを備えることを特徴とする組み込み自己試験回路装置。

IPC (6件)：

G11B 5/00 ,  G11B 20/10 321 ,  G11B 20/18 512 ,  G11B 20/18 570 ,  G11B 20/18 572 ,  G11B 20/18 574

FI (7件)：

G11B 5/00 D ,  G11B 20/10 321 Z ,  G11B 20/18 512 D ,  G11B 20/18 570 Z ,  G11B 20/18 572 B ,  G11B 20/18 572 F ,  G11B 20/18 574 Z

引用特許：

審査官引用 (1件)

• 情報記録再生装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-122212   出願人：ソニー株式会社