特許
J-GLOBAL ID：201103012604357812
リード付部品の半田付け検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
安藤 淳二
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-146596
公開番号（公開出願番号）：特開2000-337863
特許番号：特許第3649041号
出願日： 1999年05月26日
公開日（公表日）： 2000年12月08日
請求項（抜粋）：
【請求項1】プリント基板の端子孔にリード付部品のリード端子部を挿入し所定方向にクリンチして半田付けされた半田付け部の良否を判断するリード付部品の半田付け検査方法であって、半田付け部表面の各位置における高さを測定して高さデータを有する3次元座標データを取得し、端子孔を含んでクリンチ方向と略直交する境界線を設定し、半田付け部における境界線よりもクリンチ側をクリンチ部、クリンチ反対側を逆クリンチ部とし、3次元座標データをクリンチ部と逆クリンチ部とで仕分けし、クリンチ部および逆クリンチ部の3次元座標データの中の高さデータを積算して形状特徴値となるクリンチ部および逆クリンチ部の体積を求めて、両者の体積差を求め、この体積差を検査基準値と比較して、体積差が検査基準値よりも大きければ正しくクリンチされているとしてこの半田付け部を良品と判断し、体積差が検査基準値よりも小さければ、正しくクリンチされていないとしてこの半田付け部を不良と判断することを特徴とするリード付部品の半田付け検査方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 21/20 101
, G01B 11/24 A
