特許
J-GLOBAL ID:201103012779423680
金属微粒子を用いた質量分析方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (3件):
山本 秀策
, 安村 高明
, 森下 夏樹
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2006-511686
特許番号:特許第4557973号
出願日: 2005年03月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】一般式(IV):
M1-S-X-CH(R)-S-M1(IV)
(式中、Rは有機残基であり、Sは硫黄原子であり、両端のM1は同一実体の金属であり、Xは低級アルキレンまたは低級アルケニレンである)
で表される金属-有機残基複合体から硫黄原子を含む有機残基誘導体をイオン化することを特徴とする、
一般式(V):
HS-X-CH(R)-SH(V)
(式中、R、SおよびXは前記と同意義である)で表される化合物もしくはその塩、および/または
一般式(VI):
(式中、R、SおよびXは前記と同意義である)で表される化合物もしくはその塩、
を質量分析する方法。
IPC (2件):
G01N 27/62 ( 200 6.01)
, G01N 27/64 ( 200 6.01)
FI (3件):
G01N 27/62 V
, G01N 27/64 B
, G01N 27/62 K
引用特許:
引用文献: