特許
J-GLOBAL ID：201103014623084714
原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするための装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
矢野 敏雄 (外3名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-190668
公開番号（公開出願番号）：特開2000-069250
特許番号：特許第3202734号
出願日： 1999年07月05日
公開日（公表日）： 2000年03月03日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするための装置であって、スキャンされる原稿(1)を照明するための光源(3)、前記原稿(1)の内容によって変調されたスキャン光(4)を電気信号に変換するための光電変換器(9)、前記原稿(1)と前記光電変換器(9)との間の前記スキャン光(4)のビーム路にある対物レンズ(8)及びミラー(5、6、7)、共通の同時的な及び相対的に互いに等距離のシフトのために前記ミラーのうちの少なくとも1つに前記対物レンズ(8)を固定的に結合するための、シフト可能に支持されている結合エレメント(10)から成り、前記ミラー(5、6、7)は、前記スキャン光(4)が前記ビーム路の少なくとも2つの領域においてパラレルに経過するように、前記スキャン光(4)の前記ビーム路の方向に対して相対的に配向されており、前記原稿(1)を前記光電変換器(9)に結像する異なる結像スケールを調整するための前記結合エレメント(10)が所定の位置へとシフト可能である、原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするための装置において、前記結合エレメント(10)は前記対物レンズ(8)及び前記ミラーのうちの1つ(5)を支持しており、2つの位置固定された偏向ミラー(6、7)が設けられており、2つの結像スケールの調整のための前記結合エレメント(10)は前記原稿(1)に対してパラレルに2つの所定の位置へとシフト可能であり、前記対物レンズ(8)及び前記ミラー(5、6、7)は次のように互いに配置されている、すなわち、前記スキャン光(4)は前記光電変換器(9)の領域において前記原稿(1)の領域においてよりも90°だけ回転された配向を有し、前記原稿(1)から到来する前記スキャン光(4)は、前記結合エレメント(10)の2つの位置において前記結合エレメント(10)に結合されたミラー(5)に直接的に入射し、前記結合エレメント(10)のミラー(5)により反射された前記スキャン光(4)は前記偏向ミラー(6、7)によって前記結合エレメント(10)の2つの位置において直接的に前記対物レンズ(8)を通って前記光電変換器(9)に偏向され、これによって、前記結合エレメント(10)の2つの位置において全てのミラー(5、6、7)は前記原稿(1)と前記光電変換器(9)との間の前記スキャン光(4)の伝送に関与し、該スキャン光(4)のビーム路は変わらないことを特徴とする、原稿をピクセル毎に及びライン毎に光電的にスキャンするための装置。
IPC (3件)：
H04N 1/12
, G03B 21/50
, H04N 1/04
