特許

J-GLOBAL ID：201103015512256970

電子基板の検査管理方法、検査管理装置および目視検査装置

発明者： 内海 正人
出願人/特許権者： WIT株式会社
代理人 (2件)： 山田 文雄 ,  山田 洋資
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-297974
公開番号（公開出願番号）：特開2011-138930
出願日： 2009年12月28日
公開日（公表日）： 2011年07月14日
要約：

【課題】不具合箇所が見付かった基板を検査ラインから除外せずに修理し、その修理が適正だったか後で調べられるようにし、検査部位を予めプログラムしておく必要を無くす。【解決手段】a)少なくとも一部の検査工程12A〜12Hでは、不具合箇所の修理を行う;b)ステップa)で不具合箇所を修理した時に不具合箇所の不具合内容と、位置情報と、修理前および修理後の少なくとも一方の画像とを読込む;c)ステップb)で読込んだ不具合箇所の不具合内容と、位置情報と、修理前・後の少なくとも一方の画像とをデータベース16に蓄積する;d)ステップc)でデータベース16に蓄積した不具合内容と、位置情報と、修理前・後の少なくとも一方の画像とを、適時に読出す。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

製造が完了した電子基板を、複数の異なる検査工程を持つ検査ラインに導き、順次検査し不具合箇所を修理する電子基板の検査管理方法であって、 a)少なくとも一部の検査工程では、不具合箇所の修理を行う; b)前記ステップa)で不具合箇所を修理した時に前記不具合箇所の不具合内容と、位置情報と、修理前および修理後の少なくとも一方の画像とを読込む; c)前記ステップb)で読込んだ不具合箇所の不具合内容と、位置情報と、修理前・後の少なくとも一方の画像とをデータベースに蓄積する; d)前記ステップc)でデータベースに蓄積した不具合内容と、位置情報と、修理前・後の少なくとも一方の画像とを、適時に読出す; 以上の各ステップa)〜d)を行う電子基板の検査管理方法。

IPC (2件)：

H05K 13/08 ,  G01N 21/956

FI (3件)：

H05K13/08 Q ,  G01N21/956 B ,  H05K13/08 Z

Fターム (7件)：

2G051AA65 ,  2G051AB07 ,  2G051AB14 ,  2G051AC21 ,  2G051CA04 ,  2G051CA11 ,  2G051DA15