特許
J-GLOBAL ID:201103016149443387

導通検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 高橋 祥泰 ,  岩倉 民芳
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-010639
公開番号(公開出願番号):特開2000-206145
特許番号:特許第4660864号
出願日: 1999年01月19日
公開日(公表日): 2000年07月28日
請求項(抜粋):
【請求項1】 プリント基板における配線回路を電気導通の有無により検査する導通検査装置において, 上記配線回路に当接させるためのコンタクトピンと,一端をリードワイヤーと接続した密着バネと,上記コンタクトピンと上記密着バネとの間に介設して両者を互いに相反する外方に押圧するよう付勢された伸縮自在な圧縮バネと,該圧縮バネと上記密着バネとの間に介設する介設ピンと,上記各部材を収納する積層状態のハウジングとを有すると共に, 上記介設ピンは,円錐状頭部と,棒状脚部とを有しており, 該介設ピンを,上記圧縮バネと密着バネとの間に介設するに当っては,上記円錐状頭部を上記圧縮バネの端部に線接触させると共に上記棒状脚部を上記密着バネの空腔内に挿入配置してなり, かつ,上記コンタクトピンと上記介設ピンとの間に配置した上記圧縮バネは,上記リードワイヤーに接続した密着バネに比べてコイルピッチが大きく,上記ハウジングは,上記コンタクトピンを進退可能に装着するガイド孔を穿設したガイド板と,上記リードワイヤーを挿通する端子穴を配設した背面ボードと,上記ガイド板と背面ボードとの間に配設され上記密着バネと圧縮バネとを収容する挿通穴を設けたメインボードとを有していることを特徴とする導通検査装置。
IPC (5件):
G01R 1/067 ( 200 6.01) ,  G01R 1/073 ( 200 6.01) ,  G01R 31/02 ( 200 6.01) ,  H01R 13/17 ( 200 6.01) ,  H01R 13/24 ( 200 6.01)
FI (5件):
G01R 1/067 C ,  G01R 1/073 D ,  G01R 31/02 ,  H01R 13/17 ,  H01R 13/24
引用特許:
出願人引用 (2件)
  • 特表平3-501056
  • 特開平3-199975
審査官引用 (4件)
  • 特表平3-501056
  • 特表平3-501056
  • 特開平3-199975
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