特許
J-GLOBAL ID：201103018208202626
多接合型太陽電池の評価装置及び方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
金子 宏
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-044931
公開番号（公開出願番号）：特開2011-119629
出願日： 2010年03月02日
公開日（公表日）： 2011年06月16日
要約：
【課題】禁制帯幅の異なる半導体材料で出来たセルを積層して直列接続した構造になっている多接合型太陽電池のセル毎に部分的問題点を見つけられるような測定法と測定装置を提供すること。【解決手段】評価対象のセルが分担している波長の光だけを小さく絞って照射し、その強度を変調する。直列に繋がるその他のセルにはそれぞれのセルの分担波長帯の光を連続照射する。この時の電気出力の中の上記変調に対応した出力変化を解析することで、評価対象のセルの特性を測定する。複数のセルについて、それに対応した波長域の光源を順次照射することで、全てのセルの特性を測定する。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
評価対象領域のみに光を照射する収束型光照射部を備え、
前記評価対象領域と同等又はより広い領域に光を照射する発散型光照射部を備え、
前記収束型光照射部は光源である半導体発光素子の発光強度を時間的に変化させた光を照射し、
太陽電池の電気出力のうち前記変化と所定の関係にあるものを測定する測定部を備えることを特徴とする多接合型太陽電池の評価装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (4件)：
5F051DA15
, 5F051KA09
, 5F151DA15
, 5F151KA09
