特許
J-GLOBAL ID:201103018527199514

光学式センサ汚損防止装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 長谷川 芳樹 ,  黒木 義樹 ,  鈴木 光
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2010-066355
公開番号(公開出願番号):特開2011-194361
出願日: 2010年03月23日
公開日(公表日): 2011年10月06日
要約:
【課題】汚れ防止のために光学式センサの前方に発生させるガスの流量を、汚損物サイズに応じて変化させることが可能な光学式センサ汚損防止装置を提供すること。【解決手段】光学式センサ10の前方にガス流SBを発生させるガス流発生手段30を備える構成とし、光学式センサ10の前方を飛来する汚損物Pの大きさを検出する汚損物サイズ検出手段10を設ける。検出された汚損物Pの大きさに応じて、ガス流発生手段30によるガス流SBの流量を変化させるガス量調節手段20,30を備える構成とする。そして、汚損物Pのサイズが大きい場合に、ガス流SBの流量を増加することで、汚損物Pが光学式センサ10に付着することを防止する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
光学式センサへの汚損物の付着を防止する光学式センサ汚損防止装置において、 前記光学式センサの前方にガス流を発生させるガス流発生手段と、 前記光学式センサの前方を飛来する前記汚損物の大きさを検出する汚損物サイズ検出手段と、 前記汚損物サイズ検出手段によって検出された前記汚損物の大きさに応じて、前記ガス流発生手段によるガス流の流量を変化させるガス量調節手段と、を備える光学式センサ汚損防止装置。
IPC (3件):
B08B 17/02 ,  G01S 17/02 ,  B08B 5/00
FI (3件):
B08B17/02 ,  G01S17/02 Z ,  B08B5/00 Z
Fターム (17件):
3B116AA47 ,  3B116BB22 ,  3B116BB88 ,  3B116CD34 ,  3B116CD41 ,  3B117AA01 ,  3B117BA43 ,  5J084AA01 ,  5J084AB01 ,  5J084AB07 ,  5J084AC02 ,  5J084BA03 ,  5J084BA34 ,  5J084CA31 ,  5J084CA70 ,  5J084EA17 ,  5J084EA20

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