特許
J-GLOBAL ID:201103018772537727

超音波検査方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 遠山 勉 ,  松倉 秀実 ,  永田 豊 ,  佐藤 宗徳
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-184329
公開番号(公開出願番号):特開2001-013114
特許番号:特許第3719879号
出願日: 1999年06月29日
公開日(公表日): 2001年01月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 被検査物に超音波を入射し前記被検査物の不連続部で反射された前記超音波の反射エコーを反射エコー検出手段によって検出する反射エコー検出工程と、前記被検査物に超音波を入射し前記不連続部からの回折波を前記反射エコー検出手段とは別に設けられた回折波検出手段によって検出する回折波検出工程とを有し、前記反射エコー検出工程と前記回折波検出工程とを同時に行うことを特徴とする超音波検査方法。
IPC (1件):
G01N 29/10
FI (1件):
G01N 29/10 505
引用特許:
出願人引用 (1件) 審査官引用 (1件)

前のページに戻る