特許
J-GLOBAL ID：201103019140815876
塗装膜の乾燥度を非接触的に検知するための装置、及び、塗装膜の乾燥度を非接触的に検知するための方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
藤本 昇
, 中谷 寛昭
, 小山 雄一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-521502
公開番号（公開出願番号）：特表2011-529785
出願日： 2009年07月07日
公開日（公表日）： 2011年12月15日
要約：
本発明は、基材4に塗布された塗装膜5の乾燥度を非接触的に、それゆえ非破壊的に測定するための装置1に関する。本発明においては、前記装置が、電磁波放射のための少なくとも1つの送信機2と、塗装膜5へと放射された電磁波の吸収を測定するための少なくとも1つの受信機7と、測定手段8とを備えている。測定手段8においては、受信機7によって測定されたそのままの測定値が処理され、そして、そこから計算された塗装膜5の乾燥度が表示される。マイクロ波又は近赤外領域の赤外線が測定用電磁波として用いられ、どちらの場合でも、一定波長にて吸収A(t)の時間依存的な少なくとも1種の測定が行われる。赤外線放射機を備えた乾燥手段は、乾燥度が予め設定したものに到達したときに、制御及び調整手段9によって自動的に電源が切られ得る。前記乾燥手段は、乾燥度の測定の結果、高水準の正確さで電源が切られ、これによって、非常に優れた再現性及び高品質な塗装という結果になる。さらに、本発明は、前記装置1を用いて塗装膜5の乾燥度を決定するための方法であり、近赤外領域における赤外線又はマイクロ波を用いるものである。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
基材(4)上の塗装膜(5)、具体的には飛行体の外被膜の乾燥度を非接触的に決定するための装置であって、
電磁波を放射するための少なくとも1つの送信機(2)と、少なくとも1つの受信機(7)と、測定手段(8)とを備え、前記少なくとも1つの送信機(2)から放射される電磁波がマイクロ波(3)であり、マイクロ波(3)の少なくとも1種の一定波長(λ)にて、時間依存性のマイクロ波の吸収(A)を決定することにより前記乾燥度を測定可能であり、時間に対する吸収(A)の変化から生じた測定曲線の傾斜を前記測定手段(8)を用いて決定することが可能である装置。
IPC (3件)：
B05C 9/14
, F26B 25/00
, G01N 22/04
B05C9/14
, F26B25/00 F
, G01N22/04 B
3L113AA01
, 3L113BA32
, 3L113CA02
, 3L113CA20
, 3L113DA25
, 4F042AA09
, 4F042AB00
, 4F042DB00
, 4F042DH09
