特許
J-GLOBAL ID：201103019601414160
測距装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
長谷川 芳樹
, 塩田 辰也
, 寺崎 史朗
, 鈴木 守
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-257568
公開番号（公開出願番号）：特開2000-171245
特許番号：特許第3817097号
出願日： 1999年09月10日
公開日（公表日）： 2000年06月23日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 測距対象物に向けて光束を投光する投光手段と、
前記測距対象物に投光された前記光束の反射光を、前記測距対象物までの距離に応じた位置検出素子上の受光位置で受光し、その受光位置に応じた信号を出力する受光手段と、
定常光成分除去用コンデンサを有し、前記受光手段から出力された出力信号から定常光成分を除去する定常光成分除去手段と、
前記定常光成分除去手段により定常光成分が除去された前記受光手段から出力された前記出力信号に基づいて演算を行い前記測距対象物までの距離に応じた信号を出力する演算手段と、
積分コンデンサを有し、前記演算手段から出力された信号に応じて基準電圧にある前記積分コンデンサを放電又は充電して前記演算手段から出力された信号を積分し、その積分結果に応じた信号を出力する積分手段と、
前記積分手段から出力された信号に基づいて前記測距対象物までの距離を検出する検出手段とを備える測距装置において、
前記投光手段による投光と前記積分手段による積分とを同時に終了させてから、誤差時間経過後に、前記定常光成分除去用コンデンサに前記受光手段から出力された前記定常光成分の蓄積を開始することを特徴とする測距装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
審査官引用 (1件)
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測距装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-233619
出願人：富士写真光機株式会社
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