特許
J-GLOBAL ID：201103020315269142
マイクロメータ
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 保 (外1名)
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-069063
公開番号（公開出願番号）：特開2000-266501
特許番号：特許第3525072号
出願日： 1999年03月15日
公開日（公表日）： 2000年09月29日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 アンビル及びスピンドルのそれぞれの先端が平板な形状に形成されるマイクロメータのアンビルを、棒状先端に所定長さの小径のピンを突出して形成するピン部と、筒状に形成されピン部に嵌合し、先端が板状に形成され、該先端中央にピン穴が形成されており、該ピン穴に前記ピン部のピンが挿着され、前記ピン部上を摺動可能に取り付けられる検出部と、前記検出部に先端が接触し、該検出部の移動によって(+)(-)に表示するダイヤルゲージとによって形成し、前記スピンドル先端に前記アンビルの先端を当接し、該アンビルの前記ピン部のピン先端と前記検出部の先端とが一致したときに前記ダイヤルゲージをゼロ点に設定し、被検出物を前記アンビルと前記スピンドルの間に挿入し該被検出物にアンビル先端を当接した際にピン部と検出部の移動差によって良・不良を検出するようにしたことを特徴とするマイクロメータ。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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