特許
J-GLOBAL ID：201103020371810719
光ファイバ特性測定装置及び光ファイバ特性測定方法
発明者：
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出願人/特許権者：
,
代理人 (5件)：
牛木 護
, 清水 栄松
, 外山 邦昭
, 吉田 正義
, 牛木 護
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2005-348482
公開番号（公開出願番号）：特開2007-155409
特許番号：特許第4100574号
出願日： 2005年12月01日
公開日（公表日）： 2007年06月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 周波数変調された発振光を出力する光源部と、
前記光源部からの出力光を周波数シフトさせ、被測定光ファイバの一端からプローブ光として入射させるプローブ光生成手段と、
前記光源部からの出力光を、前記被測定光ファイバの他端からポンプ光として入射させるポンプ光生成手段と、
前記プローブ光とポンプ光の双方に変調を施こす変調手段と、
前記変調手段で施した2つの変調を利用して、前記被測定光ファイバから出射される光の中で、誘導ブリルアン散乱による前記プローブ光の変化分だけを分離する検出手段と、
前記検出手段で得た前記プローブ光の変化分のデータから、前記被測定光ファイバの特性を測定する測定手段と、を備えることを特徴とする光ファイバ特性測定装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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