特許
J-GLOBAL ID:201103020958291838

実装基板検査装置のティーチング方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 安富 耕二 (外1名)
公報種別:特許公告
出願番号(国際出願番号):特願平1-270600
公開番号(公開出願番号):特開平3-131984
出願日: 1989年10月18日
公開日(公表日): 1991年06月05日
請求項(抜粋):
【請求項1】下記のステップを含むことを特徴とする実装基板検査装置のティーチング方法。A.ランドの形状・寸法と部品に対する位置関係の規範を、部品の種類に応じ設定するステップ。B.前記ランドの規範形状を、部品装置データにより規定される位置に、ランドの実画面に重ねて表示するステップ。C.前記ランドの実画像と規範形状との重なり具合から、その規範形状をランドの実際形状に相当するものとして無修正のまま登録して良いか、どうかを決定するステップ。D.ステップCで規範形状の流用不可となったランドにつき、実際形状に則してティーチングを行うステップ。E.ステップCで修正の必要なしと判定した規範形状またはステップDでティーチングにより新たにとり込んだランドデータを正式のランドデータとして登録するステップ。
IPC (4件):
G06T 7/00 ,  G01N 21/88 F ,  H05K 13/04 M ,  H05K 13/08 B 8315-4E
FI (1件):
G06F 15/62 405 C
引用特許:
審査官引用 (1件)
  • 特開昭63-113681

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