特許
J-GLOBAL ID:201103021974569419

物体寸法測定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 日比谷 征彦
公報種別:特許公告
出願番号(国際出願番号):特願平1-287169
公開番号(公開出願番号):特開平3-148002
出願日: 1989年11月02日
公開日(公表日): 1991年06月24日
請求項(抜粋):
【請求項1】発光素子を等間隔で直線上に配列した発光ユニットと、受光素子を同一等間隔で直線上に配列した受光ユニットとを距離Rを隔てて平行に配設し、対向する前記発光素子と受光素子をそれぞれ対として結ぶ平行な主光束のうち、前記発光ユニットと受光ユニット間に置いた直方体状の被測定体により遮光又は非遮光の主光束の本数を計数し被測定体の寸法を求める方法において、前記受光ユニット又は発光ユニットと被測定体の側面との距離Sが前記距離Rの整数分の1になるように被測定体を配置し、遮光・非遮光に分れる2本の隣接した主光束の近辺で、対向しない前記発光素子と受光素子とを主光束に対して斜めに結び一部又は全部が前記両主光束の間を通る少なくとも1本の補助光束を使用し、前記主光束及び補助光束の遮光・非遮光の別による前記受光素子の出力を判定することにより、前記発光ユニットと受光ユニットに平行する方向の被測定体の寸法を測定することを特徴とする物体寸法測定方法。
IPC (1件):
G01B 11/02 Z 7529-2F

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