特許
J-GLOBAL ID:201103022545677846

交絡度検査装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 村上 智司
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-219140
公開番号(公開出願番号):特開2003-027365
特許番号:特許第4114909号
出願日: 2001年07月19日
公開日(公表日): 2003年01月29日
請求項(抜粋):
【請求項1】 マルチフィラメントからなる交絡糸を所定の経路で走行させて、その交絡度を検査する装置であって、 前記交絡糸の走行を案内する案内手段と、 前記交絡糸を牽引して走行せしめる送り手段と、 前記交絡糸の走行路終端部に配設され、前記交絡糸を回収する回収手段と、 前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する前記交絡糸に対してピン体を挿抜するピン挿抜手段と、 同じく前記交絡糸の走行経路近傍に配設され、走行する交絡糸の糸幅を計測する光学計測手段と、 前記ピン挿抜手段と送り手段との間の前記交絡糸に作用する張力を検出する張力検出手段と、 前記走行路の、前記ピン挿抜手段,光学計測手段及び張力検出手段より上流側で、前記交絡糸に張力を付与する張力付与手段と、 前記張力検出手段によって検出された信号を第1の基準値と比較,処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する第1の交絡度算出手段と、 前記光学計測手段によって検出された信号を第2の基準値と比較,処理して、前記交絡糸の交絡度を算出する第2の交絡度算出手段と、 前記第1の交絡度算出手段によって算出された交絡度、及び前記光学計測手段によって計測されたデータに基づいて、第2の交絡度算出手段によって算出される交絡度が第1の交絡度算出手段によって算出された交絡度に対して一定の誤差範囲内に収まるように、前記第2の基準値を設定する校正処理手段とを設けて構成し、 前記校正処理手段により第2の基準値が設定されると、以後、前記光学計測手段及び第2の交絡度算出手段によって前記交絡糸の交絡度を検査するように構成されてなることを特徴とする交絡度検査装置。
IPC (4件):
D06H 3/08 ( 200 6.01) ,  G01B 11/10 ( 200 6.01) ,  G01N 21/00 ( 200 6.01) ,  G01N 33/36 ( 200 6.01)
FI (4件):
D06H 3/08 ,  G01B 11/10 Z ,  G01N 21/00 Z ,  G01N 33/36 B
引用特許:
審査官引用 (5件)
  • 特開昭58-115169
  • 特開昭54-043092
  • 特開昭52-053049
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