特許
J-GLOBAL ID：201103022716150663
外観検査方法および外観検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
,
代理人 (2件)：
稲岡 耕作
, 川崎 実夫
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-289326
公開番号（公開出願番号）：特開2002-098643
特許番号：特許第3898884号
出願日： 2000年09月22日
公開日（公表日）： 2002年04月05日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 反射光の輝度が反射位置に応じて連続的に変化する被検査物の表面の外観検査方法であって、
被検査物の表面を撮像して、表面の濃淡に対応する濃度を含む画像情報を得て、
得られた画像情報を、その得られた画像情報の濃度のレベルに基づいて複数の検査エリアに分割し、
各検査エリアの濃度のレベルに応じて各検査エリアごとに濃度の基準値を定め、
この濃度の基準値と各検査エリアの画像情報との比較に基づいて、各検査エリアごとに欠陥の有無を判定し、
上記複数の検査エリアに分割するときには、
被検査物の表面の撮像により得られた画像情報を、予め定める位置に基づく複数の仮エリアに分割し、
分割された各仮エリアの濃度の代表値を求め、
上記複数の検査エリアのうちの少なくとも一つが、互いに隣接し且つ互いの濃度の代表値が一定の濃度幅の範囲内にある複数の仮エリアにより構成されるようにしてあることを特徴とする外観検査方法。
IPC (3件)：
G01N 21/952 ( 200 6.01)
, G01N 21/88 ( 200 6.01)
, G06T 1/00 ( 200 6.01)
G01N 21/952
, G01N 21/88 J
, G06T 1/00 300
