特許

J-GLOBAL ID：201103023493818655

表面プラズモン共鳴測定用チップ

発明者： 片山 亮 ,  田内 裕基 ,  藤井 秀夫 ,  中井 淳一
出願人/特許権者： 株式会社神戸製鋼所
代理人 (5件)： 植木 久一 ,  植木 久彦 ,  菅河 忠志 ,  伊藤 浩彰 ,  竹岡 明美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2010-115792
公開番号（公開出願番号）：特開2011-242306
出願日： 2010年05月19日
公開日（公表日）： 2011年12月01日
要約：

【課題】優れた耐ハロゲン性を有し、且つ反射光強度の低減が抑制されて純Ag膜と同等の反射光強度を備えたAg合金膜を使用したSPR測定用チップを提供する。【解決手段】本発明の表面プラズモン測定用チップは、透明誘電体基板の上に、Ag合金膜を備えており、前記Ag合金膜にBiを含んでいる。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

透明誘電体基板の上に、Ag合金膜を備えた表面プラズモン共鳴測定用チップであって、前記Ag合金膜はBiを含むことを特徴とする表面プラズモン共鳴測定用チップ。

IPC (1件)：

G01N 21/27

FI (1件)：

G01N21/27 C

Fターム (11件)：

2G059BB02 ,  2G059BB05 ,  2G059BB12 ,  2G059CC17 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ12 ,  2G059KK01