測距器の検査装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：松田和子
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平1-166060
公開番号（公開出願番号）：特開平3-029811
特許番号：特許第2826618号
出願日： 1989年06月28日
公開日（公表日）： 1991年02月07日
請求項（抜粋）：

【請求項1】物体へ投光する投光部と前記物体からの反射光を受光する受光部とを有する測距器に対向して設けた移動可能な反射板と、前記測距器の投光部および受光部と前記反射板との間に介設され光路を圧縮するコリメータレンズと、前記投光部から受光部までの光路中に光を透過するように介設されて透過光量を前記物体の移動に対応して制御する光量制御手段とを備えたことを特徴とする測距器の検査装置。

IPC (4件)：

G01C 3/06 , G02B 7/32 , G03B 13/36 , G03B 43/00

FI (4件)：

G01C 3/06 A , G03B 43/00 , G02B 7/11 B , G03B 3/00 A

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