特許
J-GLOBAL ID：201103024252317147
配向測定装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
野口 繁雄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-265663
公開番号（公開出願番号）：特開2001-091476
特許番号：特許第3772603号
出願日： 1999年09月20日
公開日（公表日）： 2001年04月06日
請求項（抜粋）：
【請求項1】試料に接近又は接触する測定平面を備え、試料の一面側のみに配置された1個の誘電体共振器と、前記誘電体共振器をその試料測定面を除いて実質的に覆い、前記誘電体共振器の試料測定面以外の面と間隙を有するように配置される導電性材料からなるシールド容器と、試料が存在するときの前記誘電体共振器の共振周波数近傍の周波数で、かつ前記平面に平行な試料内平面において一方向成分をもつ電界ベクトルをその誘電体共振器に発生させるマイクロ波用励振装置と、その誘電体共振器による透過エネルギー又は反射エネルギーを検出する検出装置と、前記試料又は前記誘電体共振器を前記平面に平行な面内で回転させる回転機構と、前記回転機構による回転にともなう前記検出装置の検出出力の変化から試料の誘電的異方性を求めるデータ処理装置と、を備え、
且つ、前記誘電体共振器が角柱状または円柱状であって、その柱の片側の底面を試料測定面とした場合に、前記誘電体共振器の試料測定面以外の面との間隙のうち、該試料測定面に対向する底面とシールド容器との間隙が0.2から0.8mmであり、該対向する底面とシールド容器間に誘電損失率がポリエチレンテレフタレートの誘電損失率以下の物質を挟んで離間する構造としたことにより、Q値が誘電体共振器の該対向する底面とシールド容器が接触している時に較べて向上していることを特徴とする配向測定装置。
IPC (3件)：
G01N 22/00 ( 200 6.01)
, G01N 33/34 ( 200 6.01)
, G01N 33/38 ( 200 6.01)
G01N 22/00 B
, G01N 22/00 P
, G01N 22/00 S
, G01N 22/00 U
, G01N 33/34
, G01N 33/38
