特許
J-GLOBAL ID：201103024568615069
テストシステム
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-005224
公開番号（公開出願番号）：特開2000-209618
特許番号：特許第3525781号
出願日： 1999年01月12日
公開日（公表日）： 2000年07月28日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 カラーフィルタにより異なる色覚を持たせた光電変換素子を配列した固体撮像素子を被検査対象とし、一定照度で均一色の光を各光電変換素子に照射し、このときの各半導体センサの検出信号をもとに固体撮像素子の良否を判定するテストシステムにおいて、前記固体撮像素子にはどんな色覚の光電変換素子がどんな順番で配列されているかを示す色配列パターンと、この色配列パターンと実際の光電変換素子の配列状態との対応関係を示すデータを記憶する色配列パターン記憶手段と、検査を開始する光電変換素子の座標データが与えられると、色配列パターン記憶手段の記憶データをもとに、前記座標データに対応する色配列パターンの位置を求め、求めた位置から展開する色配列パターンを読み出し、読み出した色配列パターンをもとに、光電変換素子の配列順に従って時間的分布に変換された検出信号がどの色の検出信号であるかを識別する識別手段と、この識別手段の識別結果に基づいて検出信号を色別に振り分け、データ群を生成する振り分け手段と、このデータ群毎に検出信号をグレイ画像として処理し、光電変換素子の良否を判定する信号処理手段と、を具備したことを特徴とするテストシステム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04N 17/02 D
, H04N 9/07 Z
審査官引用 (2件)
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特開昭59-072287
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特開昭58-118697
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